CBTZ半自动探针台 CBTZ自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试， 操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能。 与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试

型号：CBTZ

更新日期：2023-06-20

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CGO-高低温真空探针台 温度范围77K-675K(液氮)； 可应用于真空及常规环境； 超高温度分辨率； 特殊客制低温系统； 具有*稳定性

型号：CGO-2/CGO-4/CGO-6

更新日期：2023-06-20

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高低温探针台是可用于12英寸以内样品测试 采用密闭腔结构，屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜

型号：CT-6

更新日期：2023-06-20

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高温探针台可用于8英寸以内样品测试 ； 可满足500度高温测试 ； 温度稳定性高 ；兼容IV/CV/RF测试

型号：CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C

更新日期：2023-06-20

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IGBT高压大电流测试探针台$nCINDBEST CW-4 | 4“ 高压大电流探针台测试系统$n可用于8英寸以内样品测试 ；$n可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

型号：CW-4

更新日期：2023-06-20

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CH-12 综合性分析探针台测试系统 最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准 ； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

型号：CH12

更新日期：2023-06-20

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12“ 综合性分析探针台测试系统： 最大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准 ； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

型号：CH-8

更新日期：2023-06-20

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精密I-V测试测量探针台系统特点 / 应用 ◆ 满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等.，◆ 最大可用于8英寸以内样品测试，同轴丝杠传动结构，线性移动，兼容高倍率金相显微镜，可微调移动，可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用 CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 ；可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

型号：CL-6

更新日期：2023-06-20

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