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精密I-V测试测量探针台系统

简要描述：精密I-V测试测量探针台系统特点 / 应用
◆ 满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等.，◆ 最大可用于8英寸以内样品测试，同轴丝杠传动结构，线性移动，兼容高倍率金相显微镜，可微调移动，可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用
CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动；可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

产品型号：CL-6
厂商性质：经销商
更新时间：2023-06-20
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精密I-V测试测量探针台系统特点 / 应用

◆ 满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等.，◆ 从4英寸/6英寸/8英寸可用于8英寸以内样品测试，同轴丝杠传动结构，线性移动，兼容高倍率金相显微镜，可微调移动，可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

精密I-V测试测量探针台系统：CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动；可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用，

探针台系统剖析探针台系统分为手动探针台与自动探针台，以下我们主要分析手动探针台：探针台用途：手动探针台又称探针测试台主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。探针台系统组成：探针台台体+显微镜+探针座+探针夹具+探针+测试源表

宁波工程学院CL-6现场安装图青岛大学CL-4现场安装图

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