首页 > 产品中心 > 森东宝探针台 > 森东宝 > CBTZ半自动探针台

半自动探针台

简要描述:CBTZ半自动探针台
CBTZ自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试,

操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。

与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试

  • 产品型号:CBTZ
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-02-24
  • 访  问  量:233
产品详情

CBTZ半自动探针台

CBTZ自动对位探针台能对晶片实现自动对位测试,

操作简单,快捷,测试精度高,具有MAP显示功能。

与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试 。

CBTZ半自动探针台

主要技术参数

可测片型:3 寸 4寸、5寸,6寸、8寸

测试硅片单元尺寸:20—200 mil

定位精度:≤ ±0.01mm/110mm

自动对准精度:±0.01mm

误测率:≤ 1 ‰

全自动对位时间:≤ 15 s

测试速度 45 mil   5.0 pcs/s

50 mil   4.6 pcs/s

87 mil   4.2 pcs/s

步进分辨率:0.001

Z向行程:05mm 可调

承片台转角θ调节范围:±20o




CBTZ-3100Z型自动对位探针台
对晶片实现自动对位测试,操作简单,
快捷,测试精度高,具有MAP显示功
能。它与测仪连接后,能自动完成
对各种晶体管芯的电参数测试及功
测试 。
8英寸<strong>半自动探针台</strong>


操作方式

CBTZ型自动对位探针台
提供了清晰直观的触屏操作页面,
手触点击即可完成对晶片的自动对
位测试。

<span text-align:center;font-size:12px;"="" style="font-family: Arial">                 机器软件的操作界面




除此之外还提供了更加简洁 

便的小键盘操作方式,操作者可依据

个人偏好和习惯选择任意种操作 

功能小键盘


机器功能

具有自动扫描对位功能,对位精度
高、速速快,Windows7界面,动态map
图显示测试过程。



具有圆形测试,范围重测,探边

测试,范围打点,回收测试,矩形
测试和脱机打点多种测试功能。


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
产品中心
相关文章
扫一扫,关注微信
地址:北京市房山区中粮健康科技园区 传真:010-68189331
©2022 北京宣毅科技有限公司 版权所有 All Rights Reserved.  备案号:京ICP备2022007855号-1
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站