产品详情
CINDBEST CH-8|8"~12" 综合性分析探针台测试系统特点/应用
◆ 最大可用于 12 英寸以内样品测试
◆ 同轴丝杠传动结构，线性移动
◆ 大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计
◆ 针座平台快速、微调升降功能
◆ 可搭配多种类型显微镜
◆ 晶片测试、光电器件测试、PCB/IC 测试、射频测试、高压大电流测试等
◆ 结构模块化设计，可无缝升级
◆ 探针台可根据客户要求定制。
CH-12 综合性分析探针台测试系统
台体：型号 CH-8/CH-12
样品台尺寸 8 英寸/12 英寸
水平旋转 可 360 度旋转，可微调 15 度，精度 0.1 度，
带角度锁死装置
2X-Y
移动行程 8 英寸*8 英寸/12 英寸*12 英寸X-Y
移动精度 10 微米/1 微米样品固定 真空吸附，
中心吸附孔，多圈吸附环针座平台 U 型针座平台，
最多可放置 10 个探针座平台升降 可快速升降 6mm/可微调升降 25mm
背电极测试 样品台电学独立悬空，4mm 插孔可接背电极
外形尺寸 840mm 长*600mm 宽*700mm 高/950mm 长*700mm 宽*700mm 高
重量 约 100 千克/150 千克
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