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综合性分析探针台测试系统

简要描述:CH-12 综合性分析探针台测试系统
最大可用于12英寸以内样品测试;
操作便捷,功能其全,高效精准 ;
可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

  • 产品型号:CH12
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-02-24
  • 访  问  量:210
产品详情

CINDBEST CH-8|8"~12" 综合性分析探针台测试系统特点/应用 

◆ 最大可用于 12 英寸以内样品测试 

◆ 同轴丝杠传动结构,线性移动

 ◆ 大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计

 ◆ 针座平台快速、微调升降功能 

◆ 可搭配多种类型显微镜 

◆ 晶片测试、光电器件测试、PCB/IC 测试、射频测试、高压大电流测试等 

◆ 结构模块化设计,可无缝升级

 ◆ 探针台可根据客户要求定制。

CH-12 综合性分析探针台测试系统

台体:型号 CH-8/CH-12 

样品台尺寸 8 英寸/12 英寸 

水平旋转 可 360 度旋转,可微调 15 度,精度 0.1 度,

带角度锁死装置 

2X-Y 

移动行程 8 英寸*8 英寸/12 英寸*12 英寸X-Y 

移动精度 10 微米/1 微米样品固定 真空吸附,

中心吸附孔,多圈吸附环针座平台 U 型针座平台,

最多可放置 10 个探针座平台升降 可快速升降 6mm/可微调升降 25mm

背电极测试 样品台电学独立悬空,4mm 插孔可接背电极

外形尺寸 840mm 长*600mm 宽*700mm 高/950mm 长*700mm 宽*700mm 高

 重量 约 100 千克/150 千克

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