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综合性分析探针台测试系统

简要描述:12“ 综合性分析探针台测试系统:
最大可用于12英寸以内样品测试;
操作便捷,功能其全,高效精准 ;
可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

  • 产品型号:CH-8
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-02-24
  • 访  问  量:205
产品详情

特点/应用


◆ 12" 综合性分析探针台测试系统

最大可用于12英寸以内样品测试


◆ 同轴丝杠传动结构,线性移动


◆ 大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计


◆ 针座平台快速、微调升降功能


◆ 可搭配多种类型显微镜


◆ 晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等


◆ 结构模块化设计,可无缝升级


◆ 探针台可根据客户要求定制。


射频探针台,IGBT探针台,变温探针台

12" 综合性分析探针台测试系统光学系统

显微镜类型

单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜

放大倍率

16X-200X/20X-4000X

移动行程

X-Y轴行程2英寸*2英寸/水平360度旋转,Z轴行程50.8mm

光源

外置LED环形光源/同轴光源

CCD

200万像素/500万像素/1200万像素



X-Y-Z移动行程

12mm*12mm*12mm

移动精度

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

吸附方式

磁力吸附/真空吸附

线缆

同轴线/三轴线

漏电精度

10pA/100fA/10fA

固定探针

弹簧固定/管状固定

接头类型

BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子

针尖直径

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

针尖材质

钨钢/铍铜


可选附件

加热台

显示器

转接头

射频测试配件

屏蔽箱

光学平台

镀金卡盘

光电测试配件

高压测试配件

显微镜快速倾仰装置

激光系统

探针卡夹具


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