日立FIB-SEM三束系统追求的TEM样品制备工具 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为*的工具。 近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。

型号：NX2000

更新日期：2023-06-20

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高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。 采用的镜筒布局，从*材料、*设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。

型号：NX9000

更新日期：2023-06-20

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日立球差场发射透射电子显微镜200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能 通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。 透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正

型号：HF5000

更新日期：2023-06-20

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日立扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现最直观的视野移动。

型号：FlexSEM 1000 II

更新日期：2023-06-20

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超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多性能。 SU7000是一台实现了信息获取量的新型扫描电镜，可以满足客户的多种观察需求。

型号：SU7000

更新日期：2023-06-20

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日立钨灯丝扫描电子显微镜日立全新一代高分辨钨灯丝扫描电镜SU3800采用全新的HexBias偏压技术，使其低电压性能大大提升，同时升级的高灵敏度背散射探测器和可变压力探测器使得SU3800的观察能力进一步提升。SU3800还增加了IFT灯丝监控技术、全新的光镜导航、集成的能谱以及报告导出等功能，使其操作也变得更为简单。

型号：SU3800

更新日期：2023-06-20

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