半导体器件参数测试方案
2023-06-12
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静态Static (DC) 测试: 客户的设计目标是优化开关状态下的电气性能。泰克的SMU仪器、系统或参数曲线跟踪器用于执行诸如此类的关键测试.
与硅相比，测试WBG功率器件在更高的功率级别下需要更好的分辨率和更快的速度。测试可以分为两大类
国内第三代半导体现状 •
➢以SiC为代表的第3代半导体因其*的性能在装备制造、5G、智能 电网、新能源汽车等行业收到了广泛的热捧。
• ➢当前，我国在第三代半导体方面给予了很大的政策扶持，半导体技术和 欧美日韩等国家的差距在缩小但仍然较大。
• ➢以SiC为代表的第3代半导体发展迅速，与Si器件相比性能显著，但缺点 亦为明显，成本和工艺等问题仍为目前大规模应用的挑战。
• ➢当前是进入第3代半导体产业的最佳窗口期，也是中国半导体技术与国外 追赶甚至超越欧美日韩等国家的宝贵时期。
• ➢国际合作氛围融洽，市场的多元性和需求梯度驱动第3代半导体发展明显， 国内外企业、机构积极布局。
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