首页 > 产品中心 > HITACHI日立 > 日立扫描离子电导显微镜 > SU7000超高分辨肖特基场发射扫描电镜

超高分辨肖特基场发射扫描电镜

简要描述:超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多性能。
SU7000是一台实现了信息获取量的新型扫描电镜,可以满足客户的多种观察需求。

  • 产品型号:SU7000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-07
  • 访  问  量:197
产品详情

超高分辨肖特基场发射扫描电镜核心理念

  1. 采用优异的成像技术
    SU7000可以迅速获取从大视野全貌图到表面微细结构等多种检测信号。全新设计的电子光学系统和检测系统,使得装置可以同时接收二次电子和背散射电子等信号,用户可以在短时间内获得更全面的样品信息。

  2. 采用多通道成像技术
    随着用户对成像需求的不断增长,SU7000特新增了几种探测器,还引进了相应的成像功能。SU7000最多可同时显示和保存6通道信号。实现了获得样品信息的。

  3. 支持不同形状样品、多种观察方法
    ・大型样品观察
    ・低真空观察
    ・超低温观察
    ・实时观察
    等所需的样品仓和真空系统都十分完备,观察方法也是。

  4. 支持微纳解析
    采用肖特基发射电子枪,最大束流可达到200 nA,适用于各种微纳解析。样品仓形状和接口设置支持EDX分析、EBSD、阴极荧光分析等,接口设备可通过选配附件满足各种特殊需求。

超高分辨肖特基场发射扫描电镜成像能力

追求信息的检测系统

随着用户对样品数据的需求更加多元化,对检测系统在短时间内捕捉更多的信息提出了更高的要求。SU7000的检测系统可以在不改变WD等条件的前提下,更高效地获取形貌、成分、晶体学以及发光等信息。真正实现了更快速、更全面的信息收集。

同一条件观察

样品:包裹有机物的金属棒

样品提供:Vassar College, Chemistry Dept.
Mr. Smart and Ms. Pineda

通过UD、MD、LD探测器同时采集信号的应用实例 (加速电压:1 kV)
通过UD、MD、LD探测器可以同时采集信号,UD可获取表面微细形状信息,MD可获取表面有机物包覆状态信息,LD可获取整体凹凸形貌信息。在同一个条件下,实现了获取信息的。

采用可多通道显示的GUI设计

优化信号显示功能

  • 成像单元在信号显示上也作了全新升级。

  • 用户可根据观察需求,选择不同的视场角和通道数。

  • 单屏最多可同时显示4通道信号。

  • 导航功能(SEM MAP)可以轻松捕捉到显示样品仓内信息的CCD相机图像和相机拍摄到的样品图像,快速显示目标图像。

  • 使用双屏显示时,可在一个显示屏上双通道显示1,280×960像素的图像,另一个显示屏专门用来显示信号,最多可同时显示6通道信号。

高自由度的界面布局

使用单屏时,可以单通道、双通道、四通道显示样品信息,也可以显示CCD相机图像、样品台图像/SEM MAP图像等。而且操作画面上的工具栏可以任意移动、添加和删除。

支持双屏显示

1st显示屏专门用来显示图像,2nd显示屏用来显示操作面板画面。上图左图(1st显示屏)是通过SU7000观察到的钢铁中非金属夹杂物的图片。图中清晰呈现出UD、LD、UVD、MD、PD-BSED5个探测器捕捉到的图像以及SEM MAP图。右图(2nd显示屏)将操作面板菜单和图像历史记录窗口在同一个画面中显示,界面布局清晰明了。在实现实时监控图像的同时,操作性能也得到了进一步提升。

可扩展观察和分析方法

样品仓和马达台


样品仓外观
标配18个附件接口


马达台外观
XY轴可移动距离为135×100 mm

样品仓可搭载最大直径为φ 200 mm;最高80 mm的样品。大开仓设计,标配18个附件接口。样品台可搭载XY轴最大移动距离为135×100 mm,最重2 kg的样品。搭载大型样品和功能样品台完全不成问题。

相机导航功能(*)

通过相机拍摄样品

      将相机拍摄到的图像显示到SEM MAP画面上进行导航

SU7000可选配导航相机(*),迅速锁定要观察的位置。相机安装在样品仓内,插入样品后,可半自动拍摄样品的整体图像。该图像会被显示到导航画面(SEM MAP)窗口,因此,用户可以观察窗口中的图像判断位置。最大适用尺寸为φ 100 mm。

  • (*)

  • 可选配相机。

支持动态观察的检测系统

SU7000可用于环境改变的动态观察。低真空观察时,可以选用PD-BSED(背散射电子探测器)、UVD、MD等各种探测器(**)

低真空环境的探测器选择
左图为通过MD(背散射电子),右图为通过UVD(二次电子)探测器观察到的金属氧化物纤维的情况。两张图分别清晰地呈现出氧化物的分散状态和纤维的堆积情况。

PD-BSED:响应速度提高
左图是以一般的响应速度,约每两秒扫描一次得到的图像;右图抑制了图像的漂移,使得整体的画质得到了大幅提升。随着响应速度的提高,更适用于In-Situ观察。


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
产品中心
相关文章
扫一扫,关注微信
地址:北京市房山区中粮健康科技园区 传真:010-68189331
©2022 北京宣毅科技有限公司 版权所有 All Rights Reserved.  备案号:京ICP备2022007855号-1
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站