高性能FIB-SEM系统

高性能FIB-SEM系统高性能与高灵活性兼备

“Ethos"采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。
SEM镜筒内标配3个探测器，可同时观察到二次电子信号的形貌像以及背散射电子信号的成分衬度像；可非常方便的帮助FIB找寻到纳米尺度的目标物，对其观察以及加工分析。
另外，全新设计的超大样品仓设置了多个附件接口，可安装EDS*1和EBSD*2等各种分析仪器。而且NX5000标配超大防振样品台，可全面加工并观察最大直径为150mm的样品。
因此，它不仅可以用于半导体器件的检测，而且还可以用于从生物到钢铁磁性材料等各种样品的综合分析。

高性能FIB-SEM系统核心理念

1. 搭载两种透镜模式的高性能SEM镜筒

• HR模式下可实现高分辨观察（半内透镜）

• FF模式下可实现高精度加工终点检测（Timesharing Mode）

2. 高通量加工

• 可通过高电流密度FIB实现快速加工（最大束流100nA）

• 用户可根据自身需求设定加工步骤

3. Micro Sampling System*3

• 运用ACE技术（加工位置调整）抑制Curtaining效应

• 控制离子束的入射角度，制备厚度均匀的薄膜样品

4. 实现低损伤加工的Triple Beam System*3

• 采用低加速（Ar/Xe）离子束，实现低损伤加工

• 去除镓污染

5. 样品仓与样品台适用于各种样品分析

• 多接口样品仓（大小接口）

• 超大防振样品台（150 mm□）

• *3

• 选配

高性能FIB-SEM系统高性能SEM镜筒

Ethos搭载的SEM配有两种透镜模式。HR模式可将样品置于透镜磁场之中，实现样品的高分辨观察。FF模式可在最短10nsec内切换FIB照射与SEM观察。用户可在高速帧频下观察SEM图像的同时，进行FIB加工，因此，可轻松判断截面的加工终点。NX5000采用电磁复合透镜，即使在FF模式下也可保持高分辨观察。

高分辨SEM观察实例

高性能FIB镜筒

通过高电流密度FIB可实现快速加工、广域加工、多处自动加工等