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精密I-V测试测量探针台系统

简要描述:特点/应用
精密I-V测试测量探针台系统
满足I-V/C-V,PIV测试,光电测试等.
最大可用于6英寸以内样品测试
同轴丝杠传动结构,线性移动
可放置于手套箱内使用
形状轻巧,操作方便,价格实惠

  • 产品型号:CINDBEST CM-4 |
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-06-20
  • 访  问  量:770
产品详情

精密I-V测试测量探针台系统

台体尺寸

水平旋转

2英寸*3英寸

10微米


可升降mm


真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附环


左右各一个针座平台,最多可放置6个探针座


样品台电学独立悬空,4mm插孔可接背电极


400mm长*380mm宽*500mm高


约20千克



精密I-V测试测量探针台系统

光学系统:

单筒显微镜/体式显微镜

16X-200X

水平方向绕立柱360度旋转,Z轴50.8mm

外置LED无极调节亮度环形光源

200万像素/500万像素/1200万像素



定位器:

12mm*12mm*12mm

10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

磁力吸附/真空吸附

同轴线/三轴线

10pA/100fA/10fA

弹簧固定/管状固定

BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子

0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

钨钢/铍铜



可选附件

显示器

射频测试配件

光学平台

光电测试配件


规格及设计如有更改,恕不另行通知。


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