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吉时利半导体参数分析仪

简要描述:吉时利半导体参数分析仪4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的软件提供了清楚的、不折不 扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时 可以投入使用的应用测试,Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究过程,快速而又满怀信心。

  • 产品型号:吉时利4200A-SCS
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-04-28
  • 访  问  量:1441
产品详情

吉时利半导体参数分析仪主要性能指标:

I-V 源测量单元(SMU)

± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块

100 fA测量分辨率

选配前端放大器提供了 10 aA测量分辨率

10 mHz - 10 Hz 超低频率电容测量

100 μF负载电容


吉时利半导体参数分析仪四象限操作:

2 线或 4 线连接

C-V 多频率电容单元(CVU)

AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)

1 kHz - 10 MHz 频率范围

± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源,可以扩展到± 210 V(420 V 差分)

选配 CVIV 多通道开关,在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU)

两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道

200 MSa/s,5 ns 采样率

±40 V (80 V p-p),±800 mA


瞬态波形捕获模式

任意波形发生器 Segment ARB® 模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率

高压脉冲发生器单元(PGU)

两个高速脉冲电压源通道

±40 V (80 V p-p),± 800 mA

任意波形发生器 Segment ARB®模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率I-V/C-V 多通道开关模块 (CVIV)

在 I-V测量和 C-V 测量之间简便切换,无需重新布线或抬起探针

把 C-V测量移动到任意端子,无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/ 开关模块(RPM)

在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换

把 4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安

降低电缆电容效应为材料、半导体器件和工艺开发提供优秀的参数分析仪

使用强大的Clarius 软件,可以更加快速的完成I-V, C-V 和脉冲I-V 测试,结果清晰明了



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